Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете NanoMap 1000WLI (электронно-оптический комплекс для анализа морфологии кристаллов)
14 сентября 2018
458
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Тверская область, Тверь |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 75 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете, использующийся для бесконтактной профилометрии.