Аренда / Заказ исследования Программно-аппаратный комплекс для микроанализа и морфологического анализа поверхности NanoEducator2 в г.Тверь

Классификация оборудования	Приборы для микроскопических исследований
Страна, регион, город	Российская Федерация, Тверская область, Тверь
Страна производства	РФ
Год производства	2011
Предоставляемое количество	1
Условия использования	Аренда\|Заказ исследования
Стоимостная группа	от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг	от 120 000 руб.
Регламент предоставления услуги	—
Объект коллективного пользования	Нет
Наличие аккредитации	Нет
Наличие ГОСТированной методики	Нет

Описание

Предназначен для микроанализа и морфологического анализа поверхности

Найти аналог

Вам может быть интересно

Наименование	Страна производства	Условия использования	Расположение
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г	Япония	Аренда, Заказ исследования	Пермь
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок	Япония	Аренда, Заказ исследования	Красноярск
Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi)	Япония	Аренда, Заказ исследования	Москва
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ	РФ	Аренда, Заказ исследования	Москва
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ)	РФ	Аренда, Заказ исследования	Санкт-Петербург
Микроскоп Axioscope A1 производства Cart Zeiss с программным обеспечением (FISH-диагностика) Axiovision 4.6 для управления камерой	Германия	Аренда, Заказ исследования	Саратов
Электронный микроскоп серии Zeiss Supra 55 с блоком для электронно-лучевого экспонирования Raith 150	Германия	Аренда, Заказ исследования	Томск
Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments)	Великобритания	Аренда, Заказ исследования	Санкт-Петербург
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ	РФ	Аренда, Заказ исследования	Москва
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20	Великобритания	Аренда, Заказ исследования	Новосибирск