Комплекс аппаратуры для автоматического анализа удельной поверхности и размера пор

14 сентября 2018
357
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Марий Эл, Йошкар-Ола
Страна производства РФ
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 90 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для автоматического анализа удельной поверхности и размера пор исследуемого объекта
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Зондовая станция для тестирования печатных плат 2210-LS (Micromanipulator) США Аренда, Заказ исследования Москва
Мобильный ОЧГ спектрометр для полевого применения СЕГР-MCA527 (ВНИИ Спектр) РФ Продажа Москва
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng) Корея Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов США Аренда, Заказ исследования Томск
Оборудование для подготовки проб к анализу на ренгенофлуорисцентных спектрометрах Германия Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Наносклерометрический модуль для СЗМ комплекса Интегра Прима «ЗАО НТМДТ» РФ Аренда, Заказ исследования Воронеж
Доплееровский измеритель для вертикального профиля до 25 м. Китай Аренда, Заказ исследования Ханты-Мансийск
Аппарат для напыления на биологические образцы EM SCD 500 (Leica) Австрия Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург