Спектроскопический эллипсометр SE 800 Sentech Instruments GmbH
14 сентября 2018
495
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Ставропольский край, Ставрополь |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 120 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Научно-исследовательский прибор предназначен для измерения толщин и свойств тонких пленок методами эллипсометрии с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур.
Спектральный диапазон:
UV/VIS: 280…850 (190 - 2500 или 3500) нм.
Размер образца: 6”, опция: 8”
Подложка образца: Прозрачная / непрозрачная
Ручной гониометр: Регулировка угла от 40-90є, шаг 5є, воспроизводимость 0,01є
Исследования с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур.
Спектральный диапазон:
UV/VIS: 280…850 (190 - 2500 или 3500) нм.
Размер образца: 6”, опция: 8”
Подложка образца: Прозрачная / непрозрачная
Ручной гониометр: Регулировка угла от 40-90є, шаг 5є, воспроизводимость 0,01є
Исследования с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур.