Спектральный эллипсометр САГ-1891 (ИФП СО РАН)
14 сентября 2018
845
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 6 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для измерения оптических характеристик тонких пленок и многослойных структур. Спектральный диапазон составляет 350 – 1100 нм. Углы измерения 450° - 700° с шагом 50°. Диапазон измеряемых толщин 1 – 10000 нм. Диаметр светового пятна на образце 3 мм. Точность измерения толщин до 5 Å. К прибору прилагается программное обеспечение, позволяющее проводить расчеты толщин слоев и оптических параметров многослойных структур и композитов.