Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments)

ООО "Энергоавангард"
14 сентября 2018
895
Классификация оборудования
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.

Описание

Предназначен для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Лазерный эллипсометрический комплекс "ЛЭК-9105" РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Многофункцианальный планштный ридер Synergy 4 (BioTek Instruments) США Аренда, Заказ исследования Москва
Кондуктометр PWT Hanna Instruments Германия Аренда, Заказ исследования Оренбург
Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano (Malvern Instruments Ltd) Великобритания Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Комбинированный квадруполь-времяпролётный масс-спектрометр сверхвысокого разрешения MaXis impact (Bruker) Германия Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH) Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Спектральный эллипсометр "Микроскан" РФ Аренда, Заказ исследования Чебоксары
Спектральный эллипсометр САГ-1891 (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ РФ Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Быстродействующий встраиваемый эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Омск