Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments)

ООО "Энергоавангард"
14 сентября 2018
552
Классификация оборудования
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.

Описание

Предназначен для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Лазерный эллипсометрический комплекс "ЛЭК-9105" РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano (Malvern Instruments Ltd) Великобритания Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Многофункцианальный планштный ридер Synergy 4 (BioTek Instruments) США Аренда, Заказ исследования Москва
Кондуктометр PWT Hanna Instruments Германия Аренда, Заказ исследования Оренбург
Комбинированный квадруполь-времяпролётный масс-спектрометр сверхвысокого разрешения MaXis impact (Bruker) Германия Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Быстродействующий встраиваемый эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Спектральный эллипсометр САГ-1891 (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ РФ Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Спектральный эллипсометр "Микроскан" РФ Аренда, Заказ исследования Чебоксары
Рефлектометр на поляризованных нейтронах с вертикальной плоскостью отражения (Канал 12) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург