Масс-спектрометрическая установка на вторичных ионах с времяпролетным масс-спектром
14 сентября 2018
528
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Ставропольский край, Ставрополь |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 300 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование элементного состава материалов методом вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС).
Быстрое получение исследуемого спектра масс в TOF-SIMS режиме.
Возможность работы как с положительно заряженными вторичными ионами, так и с отрицательно-заряженными (positive and negative SIMS).
Возможность распыления образца (очистки) в режиме постоянного ионного пучка.
Максимальное разрешение по массе (М/ΔМ) ~ 2000 (FWHM) (Цезиевая пушка).
Точность по массе /- 0,005 amu.
Исследование элементного состава материала.
Быстрое получение исследуемого спектра масс в TOF-SIMS режиме.
Возможность работы как с положительно заряженными вторичными ионами, так и с отрицательно-заряженными (positive and negative SIMS).
Возможность распыления образца (очистки) в режиме постоянного ионного пучка.
Максимальное разрешение по массе (М/ΔМ) ~ 2000 (FWHM) (Цезиевая пушка).
Точность по массе /- 0,005 amu.
Исследование элементного состава материала.