| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2005 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 1 126 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Изучение рельефа поверхности образца с атомным разрешением в режимах сканирующей туннельной микроскопии и контактной и бесконтактной атомно-силовой микроскопии;Распределение локальной работы выхода электронов из проводящего образца в области сканирования |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование поверхностей и приповерхностных слоев металлов, полупроводников, диэлектриков, органических материалов и биологических объектов в разных средах.