Сканирующий ионный микроскоп с микроманипулятором для подготовки мембран для просвечивающего микроскопа
14 сентября 2018
257
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Нидерланды |
| Год производства | 2002 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 4 455 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Подготовка образцов для исследования поперечного сечения методом электронной микроскопии высокого разрешения;Подготовка поверхности образцов для исследований методом сканирующей туннельной микроскопии;Исследование внутренней приповерхностной структуры при |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Локальное ионное травление поверхности образцов и ионностимулированное осаждение металлических и диэлектрических покрытий, приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии