Рефлектометр на поляризованных нейтронах с вертикальной плоскостью отражения (Канал 12)
14 сентября 2018
686
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 14 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследования показателя пре-ломления материалов до глубины ~1000 с целью определения структурного профиля, а также магнитных свойств около по-верхности и профиля намагни-ченности. Монохроматор: механический (Δλ/λ = 0,10), кристаллический (пирографит, фторфлогопит) Анализатор 35 суперзеркал (вее-ром). Длина волны λ > 0,55 нм-1 Плоскость рассеяния - верти-кальная Наклон пучка -1.5° ÷ 1.5° Расстояние Образец-Детектор 2,5 м Вектор рассеяния q < 10-3 нм-1 Разрешение по переданному им-пульсу 5•10-6 нм-1 Разрешение по углам 10´´ Диапазон измеряемых масштабов 1 ÷ 150 нм Детектор: 1D (20 счетчиков СНМ-50) 2D (190 мм × 190 мм)
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments) | Германия | Продажа | Москва |