Автоматизированный интерференционный микропрофилометр АИМ (ВНИИОФИ)
14 сентября 2018
360
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2005 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Измерение микрорельефа поверхности отражающих объектов, толщины тонких пленок, параметров шероховатости. Применяется в материаловедении, микроэлектронике.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Автоматизированный эталонный поромер Porotech 3.1 | Канада | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Поромер эталонный автоматизированный 3.1 (Porotech) | Германия | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Интерференционный микроскоп-нанопрофилометр МНП | РФ | Аренда, Заказ исследования | Новосибирск |