Комплекс измерительный электронно-оптический с модулями контроля электрофизических характеристик наноматериалов и наноструктур JSM 6610LV (Jeol)

14 сентября 2018
278
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Рязанская область, Рязань
Страна производства Япония
Год производства 2012
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг от 15 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Нанотехнологический комплекс "Нанофаб 100" (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Цифровой аналитический металлографический комплекс Альтами MET Axio Imager (Карл) Германия Аренда, Заказ исследования Воронеж
Сканирующий зондовый комплекс (СЗК) AIST SmartSPM-1000 РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Сканирующий зондовый комплекс AIST SmartSPM РФ Аренда, Заказ исследования Калининград
Комплекс Zwick ZHU2.5 РФ Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Комплекс на основе ближнепольной микроскопии (сканирующая зондовая нанолаборатория) РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Комплекс оборудования для неразрушающей металлографии UHL Германия Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES Великобритания Аренда, Заказ исследования Краснодар
Специализированный исследовательский комплекс Phenom на базе сканирующего электронного микроскопа с расширенными функциональными возможностями Нидерланды Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Универсальный комплекс сканирующей зондовой микроскопии Ntegra Prima (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Сыктывкар