Электронно-зондовый микроанализатор JXA 8100 (Jeol Superprobe) с системой INCA Energy 350 (Oxford Instruments) для рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа

14 сентября 2018
659
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Приморский край, Владивосток
Страна производства Япония
Год производства 2003
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг от 21 000 руб.
Регламент предоставления услуги По запросу руководителю ЦКП или заведующему лабораторией рентгеновских методов
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ с чувствительностью 0,01 % и определяемыми элементами от B до U
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Зондовая станция для тестирования печатных плат 2210-LS (Micromanipulator) США Аренда, Заказ исследования Москва
Мобильный ОЧГ спектрометр для полевого применения СЕГР-MCA527 (ВНИИ Спектр) РФ Продажа Москва
Установка для определения размера пор и распределении их по размерам РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng) Корея Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов США Аренда, Заказ исследования Томск
Оборудование для подготовки проб к анализу на ренгенофлуорисцентных спектрометрах Германия Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Наносклерометрический модуль для СЗМ комплекса Интегра Прима «ЗАО НТМДТ» РФ Аренда, Заказ исследования Воронеж
Доплееровский измеритель для вертикального профиля до 25 м. Китай Аренда, Заказ исследования Ханты-Мансийск
Микроскоп для исследования поверхности оптическими методами ЛВ-31 РФ Аренда, Заказ исследования Пенза