Комплекс исследования структуры поверхности Nanopics 2100 (KLA-Tencor)

14 сентября 2018
416
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Самарская область, Самара
Страна производства США
Год производства 2007
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 21 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Универсальный СЗМ комплекс Интегра Прима «ЗАО НТМДТ» РФ Аренда, Заказ исследования Воронеж
Лазерный эллипсометрический комплекс "ЛЭК-9105" РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Спектральный эллипсометрический комплекс "Эллипс 1891 САГ" РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Спектральный эллипсометрический комплекс "Эллипс-1881А" РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Универсальный вакуумный комплекс сканирующей зондовой нанолаборатории "Интегра Аура" (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Ставрополь
Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Владивосток
Комплекс аналитический GCMS-QP2010 Ultra (Shimadzu) РФ Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Комплекс измерения шероховатости на основе интерференции микроскопии TALYSURF CCI 6000 (Taylor) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Учебно-научный комплекс, зондовая станция "Nanoeducator II" (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Владимир
Комплекс для плазменного напыления РФ Аренда, Заказ исследования Самара