Система анализа текстуры поверхности ASIQ (LOT-Oriel)

14 сентября 2018
619
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Самарская область, Самара
Страна производства Германия
Год производства 2007
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 21 000 руб.
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Система напыления проводящих покрытий с функцией травления и кварцевым контроллером SPI 12157EQ-AX Великобритания Аренда, Заказ исследования Курск
Измерительно-калибровочная система Alpha‐Step D‐200 (KLA-Tencor) США Аренда, Заказ исследования Воронеж
Система измерения адсорбции газов ASAP 2020 (Micrometrics) США Аренда, Заказ исследования Владивосток
Полуавтоматическая система ChemiSorb 2750 (Micromeritics) США Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Оптико-электронная система "ПРОФИЛЬ" РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu) Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Исследовательский комплекс для анализа зеренной структуры магнетит-гематитовых руд РФ Аренда, Заказ исследования Тамбов
Установка ионной имплантации с системой RBS анализа K2MV (HVEE) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Ярославль
Рентгеноэлектронный спектрометр для экспрессного химического анализа (ИАП РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Спектрофлуориметр c системой анализа времени жизни флуоресценции TCSPC Франция Аренда, Заказ исследования Архангельск