Система анализа текстуры поверхности ASIQ (LOT-Oriel)

14 сентября 2018
923
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Самарская область, Самара
Страна производства Германия
Год производства 2007
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 21 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Измерительно-калибровочная система Alpha‐Step D‐200 (KLA-Tencor) США Аренда, Заказ исследования Воронеж
Система измерения адсорбции газов ASAP 2020 (Micrometrics) США Аренда, Заказ исследования Владивосток
Система напыления проводящих покрытий с функцией травления и кварцевым контроллером SPI 12157EQ-AX Великобритания Аренда, Заказ исследования Курск
Оптико-электронная система "ПРОФИЛЬ" РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Полуавтоматическая система ChemiSorb 2750 (Micromeritics) США Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Рентгеноэлектронный спектрометр для экспрессного химического анализа (ИАП РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu) Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Исследовательский комплекс для анализа зеренной структуры магнетит-гематитовых руд РФ Аренда, Заказ исследования Тамбов
Спектрофлуориметр c системой анализа времени жизни флуоресценции TCSPC Франция Аренда, Заказ исследования Архангельск
Установка ионной имплантации с системой RBS анализа K2MV (HVEE) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Ярославль