Метрологическая станция контроля точности совмещения фотошаблонов IPRO (KLA-Tencor)
14 сентября 2018
434
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 38 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Оборудование для микроскопических исследований
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Атомно-силовая зондовая станция Ntegra Specta | РФ | Аренда, Заказ исследования | Владимир |
| Высокоскоростная флуоресцентная станция AF 6000 (Leica) | Германия | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Станция для рентгеновской микроскопии и томографии | РФ | Аренда, Заказ исследования | Новосибирск |
| Система контроля качества фотолитографии BX-51 (Olympus) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Екатеринбург |
| Микроскоп для контроля качества пластин L200 (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Курск |
| Микроскоп для контроля качества пластин L300 (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Курск |
| Установка автоматизированного оптического контроля печатных плат | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Микроскоп измерительный высокой точности | Германия | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |