Фотомикроскоп Eclipse 50i (Nikon)
14 сентября 2018
210
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Архангельская область, Архангельск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 16 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5.0 Mega Pixels Color Digital Camera Head | Япония | Аренда, Заказ исследования | Петропавловск-Камчатский |
| Микроскоп Nikon 50l | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Конфокальный микроскоп Nikon «C1si» | Япония | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Флуоресцентный стереомикроскоп SMZ800 (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Владивосток |
| Стереомикроскоп SMZ1270i (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Курск |
| Микроскоп для контроля качества пластин L200 (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Курск |
| Мультифотонный микроскоп A1 MP /A1R MP (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Лабораторный стереоскопический микроскоп AZ100 (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Калининград |
| Микроскоп стереоскопический с системой цифровой регистрации SMZ 745T (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |
| Микроскоп для контроля качества пластин L300 (Nikon) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Курск |