Аренда / Заказ исследования Автоматический эллипсометр АСЭБ-10 М (ИФП СО РАН) в г.Омск

Классификация оборудования	Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город	Российская Федерация, Омская область, Омск
Страна производства	РФ
Год производства	2008
Предоставляемое количество	1
Условия использования	Аренда\|Заказ исследования
Стоимостная группа	от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг	от 775 руб.
Регламент предоставления услуги	Изучение многослойных покрытий (оксидных, карбидных и пр.) на интегрированных полупроводниковых материалах, в т.ч. на основе пористого кремния.
Объект коллективного пользования	Нет
Наличие аккредитации	Нет
Наличие ГОСТированной методики	Нет

Описание

Предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных, анизотропных и пористых материалов, а также слоистых и многослойных наноструктур методом полной эллипсометрии.

Найти аналог

Вам может быть интересно

Наименование	Страна производства	Условия использования	Расположение
Титратор автоматический Titration Excellence T70 Terminal с автоматическим податчиком образцов Rondo 20	Швейцария	Аренда, Заказ исследования	Пермь
Титратор автоматический 870 KFTitrinoplus	Швейцария	Аренда, Заказ исследования	Томск
Автоматический потенциометрический титратор АТП-02	РФ	Аренда, Заказ исследования	Омск
Рентгеноэлектронный спектрометр для экспрессного химического анализа (ИАП РАН)	РФ	Аренда, Заказ исследования	Санкт-Петербург
Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH)	Германия	Аренда, Заказ исследования	Москва
Спектральный эллипсометр "Микроскан"	РФ	Аренда, Заказ исследования	Чебоксары
Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments)	Германия	Продажа	Москва
Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ	РФ	Аренда, Заказ исследования	Ростов-на-Дону
Спектральный эллипсометр Auto SE (Horiba)	Франция	Продажа	Москва
Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ (ИФП СО РАН)	РФ	Аренда, Заказ исследования	Владивосток