Спектроскопический УФ-ВИД (UV-VIS) эллипсометр SE 800 (SENTECH Instruments GmbH)
14 сентября 2018
375
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Челябинская область, Челябинск |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 30 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Услуги предоставляются в рамках договорных отношений |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Высокоточные измерения толщины и оптических характеристик, как однослойных пленок, так и многослойных пленочных наноструктур (коэффициент преломления, показатель поглощения) в УФ и видимом диапазоне длин волн (280 - 850 нм)Спектральный диапазон: 280 – 850 нмПринцип функционирования: PSA/PCSAРазмер образца: до 150 ммТолщина подложки: до 7 ммИсточник света: ксеноновая лампа 75 ВтПоляризатор/ анализатор: призма Глана-ТейлораКоэффициент затухания: 10-6Угловое разрешение: 0,01°