Сканирующий мультимикроскоп СММ-2000 (Протон-МИЭТ)
14 сентября 2018
380
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Возможность нанесения тонкой мелкозернистой не окисляющейся проводящей пленки (например, пленки силицида вольфрама толщи-ной 20-30 Å) позволяет исследовать любую поверхность, включая органические и биоорганические объекты. |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование поверхностей различных материалов в режимах сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии (получение 2D и 3D-изображений в редактируемых палитрах, возможность проведения математической обработки и анализа кадров).