Колонна электронного микроскопа SEM-20-50

14 сентября 2018
292
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства РФ
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа до 500 000 тыс. руб.
Стоимость предоставления услуг от 6 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначена для работы со слабо проводящими и чувствительными к статике образцами при энергии зонда 300-1000 эВ с разрешением до 200Å. Подсоединяется к вакуумным установкам до 10-7 Торр, в перспективе до 10-11Торр. При 20 кВ имеет разрешение 100 Å и предельное разрешение 50 Å на образце «золото на графите». Рабочий отрезок 20…50 мм, совмещается с туннельными микроскопами UnderSEM377 и UHV-LT-STM-5.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Комплект для визуального анализа на базе микроскопа "Микромед" 2 вар. 3-20 РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5.0 Mega Pixels Color Digital Camera Head Япония Аренда, Заказ исследования Петропавловск-Камчатский
Цифровая камера для микроскопа DCM35 (350k pixels, USB2.0), 2-07 РФ Аренда, Заказ исследования Кострома
Источник бесперебойного питания в комплекте(для просвечивающего микроскопа) США Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Система цифровой микроскопии на базе оптического микроскопа Olympus BX51M Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп Leica TCS SP5 на базе инвертированного микроскопа DIM6000BP Германия Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Комплекс для получения панорамных изображений на основе оптического микроскопа Белорусь (РБ) Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Комплект оборудования на базе сканирующего хондового микроскопа NANOEDUCATOR РФ Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Комплекс оборудования на базе конфокального микроскопа Eclipse Ni-E A1 (Nikon) Япония Аренда, Заказ исследования Москва