Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D (FEI)
14 сентября 2018
323
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Нидерланды |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Получение изображения разнообразных образцов в цифровой форме с увеличением более 100 000 крат.Качественный и количественный анализ состава образцов. Удаление слоя материала образца, обнаружение структуры под поверхностным слоем, создание сечений, получение серии срезов образца с высоким разрешением.