Система анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов PHI Versa Probe II 5000 (ULVAC-PHI)
Система анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов PHI Versa Probe II 5000 (ULVAC-PHI)

Система анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов PHI Versa Probe II 5000 (ULVAC-PHI)

НИТУ МИСИС
14 сентября 2018
538
Классификация оборудования
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Япония
Год производства 2015
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг от 3 783 руб.
Регламент предоставления услуги Исследование профиля концентраций полимерных, органических, биологических и гибридных наноматериалов;Исследование высокоомных диэлектриков.
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Дополнительные опции к рентгеновскому фотоэлектронному спектрометру PHI Versa Probe II 5000 позволяют проводить анализ поверхности органических, гибридных и биоматериалов в интервале температур.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Измерительно-калибровочная система Alpha‐Step D‐200 (KLA-Tencor) США Аренда, Заказ исследования Воронеж
Система измерения адсорбции газов ASAP 2020 (Micrometrics) США Аренда, Заказ исследования Владивосток
Комплексная система измерений и исследований в наномасштабе Nanotest 600 (LOT-Oriel) Италия Аренда, Заказ исследования Российская Федерация
Система напыления проводящих покрытий с функцией травления и кварцевым контроллером SPI 12157EQ-AX Великобритания Аренда, Заказ исследования Курск
Оптико-электронная система "ПРОФИЛЬ" РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Полуавтоматическая система ChemiSorb 2750 (Micromeritics) США Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Рентгеноэлектронный спектрометр для экспрессного химического анализа (ИАП РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu) Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Исследовательский комплекс для анализа зеренной структуры магнетит-гематитовых руд РФ Аренда, Заказ исследования Тамбов
Спектрофлуориметр c системой анализа времени жизни флуоресценции TCSPC Франция Аренда, Заказ исследования Архангельск