Универсальный вторично-ионный микроанализатор Ion Microanalyzer IMS-4F (Cameca)
14 сентября 2018
446
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Франция |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Области применения: локальный элементный и изотопный анализ; анализ глубинных профилей распределения основных и примесных элементов в образцах, неоднородных по толщине, например, в гетероструктурах; изучение строения гетерограниц; явлений сегрегации и диффузии; исследование двумерных и трехмерных распределений атомов в сложных гетерофазных структурах (конструкционные материалы, структуры опто- и микроэлектронных приборов и др.)