Последовательный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800 (Shimadzu)
14 сентября 2018
655
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Приморский край, Владивосток |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U за 2,5 минуты Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм Локальный анализ в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент) Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий Уникальная система пробоподачи образца