Последовательный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800 (Shimadzu)
14 сентября 2018
436
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Приморский край, Владивосток |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2015 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U за 2,5 минуты Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм Локальный анализ в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент) Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий Уникальная система пробоподачи образца