3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений S mart (Sensofar)

14 сентября 2018
646
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Испания
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.

Описание

Предназначен для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества в процессе или после обработки материалов. Может поставляться как решеие для интеграции оптической головы в станок или установку или как переносное портативное настольное решение. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Зондовая станция для тестирования печатных плат 2210-LS (Micromanipulator) США Аренда, Заказ исследования Москва
Мобильный ОЧГ спектрометр для полевого применения СЕГР-MCA527 (ВНИИ Спектр) РФ Продажа Москва
Установка для определения размера пор и распределении их по размерам РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng) Корея Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов США Аренда, Заказ исследования Томск
Оборудование для подготовки проб к анализу на ренгенофлуорисцентных спектрометрах Германия Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Наносклерометрический модуль для СЗМ комплекса Интегра Прима «ЗАО НТМДТ» РФ Аренда, Заказ исследования Воронеж
Доплееровский измеритель для вертикального профиля до 25 м. Китай Аренда, Заказ исследования Ханты-Мансийск
Аппарат для напыления на биологические образцы EM SCD 500 (Leica) Австрия Аренда, Заказ исследования Новосибирск