Интерференционный топограф New View 7300 (Zygo Corporation)

14 сентября 2018
477
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства США
Год производства 2014
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 6 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерения характеристик топологии поверхности. Принцип работы заключается в автоматическом исследовании интерференционной
картины монохроматического лазерного излучения в каждой точке кадра, доступного для измерения. Результатом является карта высот и рассчитанные на её основе характеристики шероховатости и неоднородности поверхности для оптического изображения, полученного в геометрии на отражение при помощи объективов с 10×, 50× и 100× кратным увеличением. Разрешение по вертикали достигает 0,2 нм. Планарное разрешение составляет 600 нм.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп инвертированный CKX41 (Olympus Corporation) Филиппины Аренда, Заказ исследования Калининград
Анализатора изображения нового поколения SIAMS Photolab (Olympus Corporation) Япония Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Микроскоп стереоскопический SZ51 (Olympus Corporation) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1 (ВНИИОФИ) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-Д (ВНИИОФИ) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Интерферометрический микроскоп NewView 5000 (Zygo Corporation) США Аренда, Заказ исследования Пермь
Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation США Аренда, Заказ исследования Самара