Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation

САМАРСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ
14 сентября 2018
760
Классификация оборудования
Приборы для микроскопических исследований
Страна, регион, город Российская Федерация, Самарская область, Самара
Страна производства США
Год производства 2004
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 9 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Визуализация и исследование геометрического рельефа, поляризационных и физических свойств (анизотропия, показатель преломления, фазовый состав, механическое напряжение) кристаллических и полупроводниковых наноструктур, нанодинамики их изготовления.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR» РФ Аренда, Заказ исследования Томск
Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" РФ Аренда, Заказ исследования Белгород
Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000 Франция Аренда, Заказ исследования Российская Федерация
Микроскоп инвертированный CKX41 (Olympus Corporation) Филиппины Аренда, Заказ исследования Калининград
Анализатора изображения нового поколения SIAMS Photolab (Olympus Corporation) Япония Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Микроскоп стереоскопический SZ51 (Olympus Corporation) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск
Комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU в составе: система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных к Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Интерферометрический микроскоп NewView 5000 (Zygo Corporation) США Аренда, Заказ исследования Пермь