| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
| Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR» |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Томск |
| Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Самара |
| Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
| Комплекс для металлографического анализа включающий микроскоп, шлифовально-полировальный станок, стереомикроскоп Микроскоп Axivert 200 MAT, стереомикроскоп Stemi 2000-C (Carl Zeiss) |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Якутск |
| Сканирующий микроскоп СММ-2000 бинокулярный стереомикроском МБС-10 (Завод Протон-МИЭТ) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI) |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Новочеркасск |
| Стереокопический микроскоп Stemi 2000 (Carl Zeiss) c камерой Canon 1000 D |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Хабаровск |
| Установка для осаждения нанокристаллов и нанотрубок EasyTube™ 2000 System (First Nano) |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Сканирующий зондовый мультимикроскоп СММ-2000 (Протон) с атомно-силовым столиком |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Иркутск |
