| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR» |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Томск |
| Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
| Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Самара |
| Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
| Оптический инвертированный микроскоп с увеличением 2000 Olympus GX71 |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
| Микроскоп стереоскопический Stemi 2000-C |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Владивосток |
| Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000 |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Петрозаводск |
| Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI) |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Новочеркасск |
| Металлографический микроскоп с цифровой камерой Микро-2000 |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Комсомольск-на-Амуре |
| Микроскоп стереоскопический для лабораторных исследований Stemi 2000-C |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Барнаул |
