Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI)

14 сентября 2018
489
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Ростовская область, Новочеркасск
Страна производства Нидерланды
Год производства 2005
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 38 000 руб.
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Оборудование для микроскопических исследований
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU в составе: система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных к Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Устройство ионного травления для подготовки образцов для исследование на электронных микроскопах- система финишной доводки образцов PIPS США Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos) Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Система конфокальной рамановской отображающей микроскопии и атомно-силовой микроскопии Alpha300AR РФ Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система лабораторная Cyto vision (West Medica) для автоматизированного многокомпонентного микроскопического анализа препаратов клеток и тканей Германия Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Оптическая система плавной смены увеличений для визуализации и анализа трехмерных изображений с последующей фиксацией и документированием Германия Аренда, Заказ исследования Калининград
Оптико-электронная система измерения поверхностных дефектов на базе сканирующего зондового микроскопа SolverNEXT РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT РФ Аренда, Заказ исследования Ставрополь