| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
| Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Самара |
| Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
| Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000 |
Франция |
Аренда, Заказ исследования |
Российская Федерация |
| Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Платформа учебно-аналитическая для исследования качества, состава и электрофизических свойств графена и его производных |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Якутск |
| Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Программно-технический комплекс для автоматизации научных исследований биологических объектов(клеток) LSM 710 LIVE (Carl) |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Владивосток |
| Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Иркутск |
| Оптико-электронная система измерения поверхностных дефектов на базе сканирующего зондового микроскопа SolverNEXT |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
