Платформа учебно-аналитическая для исследования качества, состава и электрофизических свойств графена и его производных

Сочетание оптических и АСМ методов в одном приборе обеспечивает проведение комплексных экспериментов, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на его топографию, распределение электрических, магнитных и других свойств.Измерительный модуль оборудован микроманипуляторами и предназначен для проведения электрофизических измерений нанострукутур, полупроводниковых устройств и других материалов, и обеспечивает широкий спектр манипуляций с микрообъектами (перемещение и модификация).Система ASEC-03 предназначена для исследования электрических и фотоэлектрических свойств и определения электрофизических параметров полупроводниковых и диэлектрических материалов, а также гомо и гетероструктур на их основе.В состав модуля входят 3 микроскопа: - исследовательский промышленного назначения; - металлографический микроскоп; - поляризационный микроскоп.