Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company)
14 сентября 2018
862
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Иркутская область, Иркутск |
| Страна производства | Нидерланды |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 25 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai™ G² F20 с отличными характеристиками формирования изображений в режимах ПЭМ, СПЭМ и наноанализа, сверхвысоким вакуумом, высокой пространственной когерентностью, полной линейкой пробоподготовки, информационным пределом < 0,12 нм и увеличением 25x–1,000 kx (ПЭМ) 150x–230 Mx (СПЭМ)