Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSem 450

14 сентября 2018
445
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Белгородская область, Белгород
Страна производства Нидерланды
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа. Электронная пушка – полевая эмиссия с холодным катодом, ускоряющее напряжение – 5-30 кВ. Микроскоп оборудован EDS спектрометром, позволяет проводить рентгено- флуоресцентный анализ и картирование образца. Разрешение во вторичных электронах:
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Система конфокальной рамановской отображающей микроскопии и атомно-силовой микроскопии Alpha300AR РФ Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система лабораторная Cyto vision (West Medica) для автоматизированного многокомпонентного микроскопического анализа препаратов клеток и тканей Германия Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск
Оптическая система плавной смены увеличений для визуализации и анализа трехмерных изображений с последующей фиксацией и документированием Германия Аренда, Заказ исследования Калининград
Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT РФ Аренда, Заказ исследования Ставрополь
Двухлучевая система с высоким разрешением для исследования и подготовки образцов NVision 40 (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст РФ Аренда, Заказ исследования Барнаул
Система материалографических исследований с высоким разрешением и локальным элементным анализом Vega II (Tescan) Чехия Аренда, Заказ исследования Москва
Комплект оборудования для флуоресцентного имидждинга Система Cell-R, IX71 инвертированный микроскоп (Olympus,) Германия Аренда, Заказ исследования Москва