Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSem 450

14 сентября 2018
686
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Белгородская область, Белгород
Страна производства Нидерланды
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа. Электронная пушка – полевая эмиссия с холодным катодом, ускоряющее напряжение – 5-30 кВ. Микроскоп оборудован EDS спектрометром, позволяет проводить рентгено- флуоресцентный анализ и картирование образца. Разрешение во вторичных электронах:
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система тринокулярного тубуса Olympus Япония Аренда, Заказ исследования Чита
Система лазерной микродиссекции Arcturus XT США Аренда, Заказ исследования Москва
Система контроля качества фотолитографии BX-51 (Olympus) Япония Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с магнетронными источниками Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с термическими испарителями Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст РФ Аренда, Заказ исследования Барнаул
Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск