| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
| Устройство ионного травления для подготовки образцов для исследование на электронных микроскопах- система финишной доводки образцов PIPS |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
| Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos) |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Система конфокальной рамановской отображающей микроскопии и атомно-силовой микроскопии Alpha300AR |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Екатеринбург |
| Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Система лабораторная Cyto vision (West Medica) для автоматизированного многокомпонентного микроскопического анализа препаратов клеток и тканей |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Ростов-на-Дону |
| Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Иркутск |
| Оптическая система плавной смены увеличений для визуализации и анализа трехмерных изображений с последующей фиксацией и документированием |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
| Оптико-электронная система измерения поверхностных дефектов на базе сканирующего зондового микроскопа SolverNEXT |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
