| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Омская область, Омск |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных, анизотропных и пористых материалов, а также слоистых и многослойных наноструктур методом полной эллипсометрии в лабораторных условиях. Спектральный диапазон: 350-1050 нм. Спектральное разрешение 2 нм. Время измерения 1 спектра 30 сек. Гониометр с набором углов падения света.