Прибор для измерения удельной поверхности Sorbi-M (МЕТА)

14 сентября 2018
414
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Иркутская область, Иркутск
Страна производства РФ
Год производства 2015
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов методом низкотемпературной адсорбции инертных газов. Позволяет проводить одноточечный (экспресс) и многоточечный анализ удельной поверхности по методу БЭT (соответствует международным стандартам ASTM и ISO). Диапазон измерения удельной поверхности: от 0.1 м2/г до 2000 м2/г. Воспроизводимость лучше, чем 0.5%. Измерения проводятся в автоматическом режиме и отображаются в реальном масштабе времени. Прибор не требует применения готовых газовых смесей. Специальная конструкция детектора обеспечивает низкий дрейф фона и высокую воспроизводимость измерений.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Порозиметр Micromeritics AutoPore IV в комплекте с устройством для сбора ртути Micromeritics Mercury Quik Vac США Аренда, Заказ исследования Москва
Высоковакуумный фотоэлекторнный спектрометр ESCAprobe для исследований химических соединений в газовой фазе методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС, УФЭС) Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов США Аренда, Заказ исследования Томск
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu) Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng) Корея Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Комплект дополнительного оборудования для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре Швейцария Аренда, Заказ исследования Саранск
Аппарат для напыления на биологические образцы EM SCD 500 (Leica) Австрия Аренда, Заказ исследования Новосибирск