Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9010MX (Jeol)
14 сентября 2018
494
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Белгородская область, Белгород |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор позволяет проводить анализ элементного (химического) состава поверхности и по глубине поверхностного слоя материалов деталей на различных этапах (технологиях) их изготовления, а также после длительной эксплуатации (воздействия температуры, окислительной среды, нагрузки). Данный спектрометр эффективно используется для контроля технологических параметров и режимов нанесения наноструктурных покрытий на поверхность деталей, а также для оценки их эксплуатационных характеристик. Чувствительность и разрешение на фотоэлектронном пике Ag3d5/2 при возбуждении 300 Вт MgKα: 540000 имп/сек с разрешением 0,90 (эВ); 1800000 имп/сек с разрешением 1,15 (эВ); 5000000 имп/сек с разрешением 1,80 (эВ).