Купить Контроллер для пьезопозиционеров EG-1000 NanoScan в г.Москва

Классификация оборудования	Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город	Российская Федерация, Москва
Страна производства	РФ
Предоставляемое количество	1
Условия использования	Продажа
Стоимостная группа	до 500 000 тыс. руб.

Описание

Предназначен для управления работой пьезопозиционеров, таких как сканирующий столик Ratis и однокоординатная подвижка Vectis. Контроллер обеспечивает сбор информации с различных датчиков и выдает управляющие воздействия на пьезоэлектрические устройства позиционирования, кроме того, вся собранная информация отправляется на управляющий компьютер для последующей обработки и визуализации. Также с помощью компьютера задаются все параметры движения. Для контроля положения устройств позиционирования используется цифровая система следящей обратной связи и оригинальная схема измерения ёмкости датчиков перемещения, основанная на преобразователях «время-цифра».

Найти аналог

Вам может быть интересно

Наименование	Страна производства	Условия использования	Расположение
Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М	РФ	Аренда, Заказ исследования	Санкт-Петербург
Порозиметр Micromeritics AutoPore IV в комплекте с устройством для сбора ртути Micromeritics Mercury Quik Vac	США	Аренда, Заказ исследования	Москва
Высоковакуумный фотоэлекторнный спектрометр ESCAprobe для исследований химических соединений в газовой фазе методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС, УФЭС)	Германия	Аренда, Заказ исследования	Владивосток
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов	США	Аренда, Заказ исследования	Томск
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos)	Великобритания	Аренда, Заказ исследования	Москва
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)	Япония	Аренда, Заказ исследования	Пермь
Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ	РФ	Аренда, Заказ исследования	Новосибирск
Прибор для изучения физической адсорбции Gemini VII 2390 Surface Area Analyzer	США	Аренда, Заказ исследования	Москва
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng)	Корея	Аренда, Заказ исследования	Новосибирск
Фотоэлектронный спектрометр для исследования химического состава наночастиц на поверхности твердого тела	Польша	Аренда, Заказ исследования	Санкт-Петербург