| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для анализа элементного состава материалов. Фотометр: реальная двухлучевая система Эшеле. Оптика с защитными покрытиями, в изолирующем защитном корпусе с возможностью продувки инертным газом. Монохроматор: схема Эшеле, фокусное расстояние - 300 мм , площадь решетки - 36х185 мм, 79 линий/мм с углом блеска 76о. Кварцевая призма 95х40 мм, 60о, диапазон 189-900 нм, спектральное разрешение 0,12 нм на 200 нм. Детектор: широкодиапазонный сегментированный полупроводниковый детектор, интегрированный с малошумящим CMOS-массивом зарядовых усилителей. Автоматический выбор ламп: 4-ламповый держатель со встроенным блоком питания для ламп с полым катодом и безэлектродных. Программный контроль выбора лампы и ее юстировки. Элементы и аналитические параметры автоматически распознаются для ламп PerkinElmer Luminaтм.