| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Стенд для микросхем: Комплект оборудования для микроскопических исследований |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
| Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
| Комплект оборудования для флуоресцентного имидждинга Система Cell-R, IX71 инвертированный микроскоп (Olympus,) |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Комплект для визуального анализа на базе микроскопа "Микромед" 2 вар. 3-20 |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Омск |
| Комплект оборудования для изучения реологических характеристик Thermo HAAKE |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Ханты-Мансийск |
| Комплект приставок для проведения тонких исследований |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
| Комплект учебных сканирующих зондовых микроскопов NanoEducator |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Ростов-на-Дону |
| Комплект микроскопов биологических |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
| Комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU в составе:
система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных к |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
