Аналитический металлографический комплекс на основе сканирующего электронного микроскопа Zeiss SIGMA
14 сентября 2018
229
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Универсальный автоэмиссионный растровый электронный микроскоп Zeiss SIGMA, оснащенный волновым дисперсионным спектрометром Inca Wave 700, системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов Aztec HKL Advanced Channel 5 и системой для проведения механических испытаний при нагревании, предназначен для решения широкого спектра задач в области материаловедения