Электронный микроскоп (комплекс электронно-ионной литографии) серии Cross-Beam модель Neon 40EsB (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
212
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
Страна производства | Германия |
Год производства | 2008 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Электронная и ионная литография, электронномикроскопическое исследование структур при больших увеличениях. Исследование структур нанопрепарирования, инспекция полупроводниковых приборов, анализ слоистых структур, исследования керамик и полимеров, ионное травление