Электронный микроскоп (комплекс электронно-ионной литографии) серии Cross-Beam модель Neon 40EsB (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
382
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Электронная и ионная литография, электронномикроскопическое исследование структур при больших увеличениях. Исследование структур нанопрепарирования, инспекция полупроводниковых приборов, анализ слоистых структур, исследования керамик и полимеров, ионное травление