Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI)

Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне (разрешение на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от В до U), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает получение изображения с высоким разрешением (разрешение 1 нм). Микроскоп имеет многопользовательский интерфейс с сохранением индивидуальных настроек для каждого вида эксперимента.
Комплекс оснащен комплектом оборудования для подготовки образцов из металла, керамики и полимеров, в который входят:
– устройство для вышлифовки ямок, обеспечивающее плоское шлифование, вышлифовку ямок, полировку, утончение образцов до толщины менее 10 мкм;
– ионная мельница, предназначенная для прецизионной полировки образца до электрон-прозрачных толщин (не более 400 нм);
– устройство УЗ нарезки заготовок образцов толщиной от 10 мкм до 1 см из металлов, керамики или полимеров для последующего утончения шлифовкой и ионной мельницей;
– устройство для перфорирования – изготовления заготовок заданной формы из металла, керамики и полимеров для дальнейшего утончения;
– устройство для шлифовки образцов, обеспечивающее ручную механическую полировку заготовок до толщин 0,5 мм с последующим утончением устройством вышлифовки ямок и ионной мельницей;
– напылительная установка, предназначенная для напыления углерода на образцы, используемые для просвечивающей электронной микроскопии.