Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | РФ |
Год производства | 2011 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Используется для изучения свойств поверхности, а также объектов на нано-метровом уровне. Основной методикой, используемой сканирующими зондовыми микроскопами, является AFM (atomic force microscopy) – ACM (атомно-силовая микроскопия), которая позволяет получить данные о размерах, геометрической форме и структуре микро- и наночастиц, адгезированных на поверхностях различного типа, а также о морфологии любой твердой (в т.ч. пористой) поверхности.