| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Прибор SORBI-M® со станцией подготовки образцов SORBIPREP® (МЕТА) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Бийск |
| Прибор для изучения физической адсорбции Gemini VII 2390 Surface Area Analyzer |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Рентгеноэлектронный спектрометр для экспрессного химического анализа (ИАП РАН) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Система анализа текстуры поверхности ASIQ (LOT-Oriel) |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Самара |
| Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Пермь |
| Исследовательский комплекс для анализа зеренной структуры магнетит-гематитовых руд |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Тамбов |
| Система для анализа площади поверхности и пористости Micromeritics ASAP 2020 |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Кемерово |
| Спектрофлуориметр c системой анализа времени жизни флуоресценции TCSPC |
Франция |
Аренда, Заказ исследования |
Архангельск |
| Установка ионной имплантации с системой RBS анализа K2MV (HVEE) |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Ярославль |
| Спектрометр последовательного рентгенофлюоресцентного анализа ARL PERFORM’X |
США |
Продажа |
Москва |