Система энергодисперсионного микроанализа Genesis System (EDAX)

14 сентября 2018
271
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Чечня, Грозный
Страна производства США
Год производства 2011
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 1 500 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Энергодисперсионный микроанализ широко применяется для определения элементного состава образцов практически во всех областях науки и промышленности: в горнодобывающей промышленности, машиностроении, металлургии, энергетике, полупроводниковой промышленности, ювелирном деле, полиграфии, криминалистике, геологии, физике, химии, биологии, экологии, археологии.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система тринокулярного тубуса Olympus Япония Аренда, Заказ исследования Чита
Система лазерной микродиссекции Arcturus XT США Аренда, Заказ исследования Москва
Система контроля качества фотолитографии BX-51 (Olympus) Япония Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с магнетронными источниками Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с термическими испарителями Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст РФ Аренда, Заказ исследования Барнаул
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск
Система цифровой микроскопии на базе оптического микроскопа Olympus BX51M Япония Аренда, Заказ исследования Москва