Система дифракции обратно рассеянных электронов EDAX TSL (EBSD)
14 сентября 2018
238
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Чечня, Грозный |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 1 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Изучение текстуры и межзёренных границ;Получение высококачественных изображений. |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Для исследования кристаллографических ориентаций многих материалов, которая может использоваться для исследования текстуры или преимущественных ориентаций моно- или поликристаллического материала.