Приставка анализа параметров пучка лазерного излучения «Beam Profiler» (LOT-QuantumDesign)

14 сентября 2018
426
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Самарская область, Самара
Страна производства Германия
Год производства 2006
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 37 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Приборы для измерения характеристик лазерного излучения
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Система анализа структур на полупроводниковых пластин ZI-2000 (SCREEN) Япония Продажа Москва
Система оптического контроля и анализа пластины Axiospect 301 (HSEB) Германия Продажа Москва
Оборудование для анализа структуктуры многофазных потоков методом фазовой доплеровской анемометрии РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Установка для дефференциально-термического термогравиметрического анализа РФ Аренда, Заказ исследования Брянск
Установка для измерения электрических и оптических параметров лазерных линеек IELD-8 РФ Аренда, Заказ исследования Владимир
Установка измерения параметров элементов матричных ИК детекторов. Стандартные элементы, входящие в установку: Абсолютно черное тело; Синхронный детектор: Персональный компьютер со специальным программным обеспечением РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Прибор для измерения параметров шероховатости и профиля HommelTester T8000 (Hommelwerke) США Аренда, Заказ исследования Москва
Полупроводниковый лазерный модуль с волоконным выходом излучения и источниками питания и температурного контроля РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Станция для изучения химии металло-органических соединений под действием излучения ЛСЭ РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Устройство для определения коэффициента излучения РФ Аренда, Заказ исследования Ухта