Система спектроскопического измерения толщины пленки VM-2200/3200 (SCREEN)

14 сентября 2018
416
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Япония
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.

Описание

Предназначена для спектроскопического измерения толщины пленки. Компактная система с высокой производительностью и широкими возможностями применения. Модели в этой серии подходят как для измерения материала, так и для измерения тонких и многослойных пленок.

Основные возможности:
Высокая производительность.
Компактный дизайн.
Простота обслуживания.
Удобство и простота эксплуатации.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Лазерная система OperA Solo (Coherent) США Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Система стабилизации температуры полупроводникового лазера и других оптических и иных изделий ССТ-0,05 РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Автоматизированная система оптической инспекции HSEB WOTAN (HSEB) Германия Продажа Москва
Мобильная измерительная система на базе лазерного трекера РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Автоматизированная система оптического контроля сторон пластины ODIN (HSEB) Германия Продажа Москва
Система электроснабжения на базе фотоэлектрической установки Advanced Photovoltaics Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Система оптического контроля и анализа пластины Axiospect 301 (HSEB) Германия Продажа Москва
Импульсная Nd:YAG лазерная система с перестраиваемой длиной волны Белорусь (РБ) Аренда, Заказ исследования Калининград
Лазерная система на основе импульсного неодимового ND Германия Аренда, Заказ исследования Оренбург
Система теплоснабжения теплицы РФ Аренда, Заказ исследования Йошкар-Ола